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產(chǎn)品型號： MP30E-S
所屬分類：涂層測厚儀
產(chǎn)品時間：2024-07-23
簡要描述：涂層測厚儀MP20E-S 創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性u 測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用u FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
涂層測厚儀MP20E-S的詳細(xì)介紹
u 創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性
u 測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
u FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
MINITEST 700優(yōu)點一覽：
? SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確
? 可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
? FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
? 溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
? 生產(chǎn)過程中50點校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
? 大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
? 讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
? 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
? 菜單指引操作，25種語言可選
? 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
可下載更新軟件
標(biāo)準(zhǔn)配置：
涂層測厚儀MP20E-S
? 帶塑料手提箱
? MINITEST 720（內(nèi)置探頭）
? 或MINITEST 730（外置探頭）
? 或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
? 校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
? 操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
? 2節(jié)AA電池
推薦配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
主 機
涂層測厚儀|德國EPK MiniTest 730 F-15|
型號 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內(nèi)置探頭 | 外置探頭 | 內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
存儲數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個 | zui多10,000個 | zui多100,000個 |
統(tǒng)計值 | 讀值個數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置） | ||
符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | ||
校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點校準(zhǔn)，2點校準(zhǔn)，3點校準(zhǔn)， 使用者可調(diào)節(jié)補償值 | ||
極限值監(jiān)控 | 聲、光報警提示超過極限 | ||
測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內(nèi)置）230g（外置） |
SIDSP探頭
探頭 特性 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP） | |||||
精確度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
重復(fù)性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
測量速度 | 連續(xù)模式每秒20個讀數(shù),單值模式下每分鐘70個讀數(shù) | |||||
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