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德國EPK涂層測(cè)厚儀S5
德國EPK涂層測(cè)厚儀S5

產(chǎn)品型號(hào): MiniTest600BN

所屬分類:涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品時(shí)間:2024-07-23

簡(jiǎn)要描述:德國EPK涂層測(cè)厚儀S5
麥考特測(cè)厚儀根據(jù)量程大小可分為G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20以及筆式測(cè)厚儀等各種不同規(guī)格的測(cè)厚儀,Z小的測(cè)量范圍是0-100微米,Z大的是7.5-20毫米;又根據(jù)表現(xiàn)形式分為圓盤指針式的和數(shù)字顯示的(如新型的G7,F(xiàn)7

詳情介紹

德國EPK涂層測(cè)厚儀S5

德國EPK涂層測(cè)厚儀S5 所有MikroTest涂層測(cè)厚儀都是依據(jù)磁吸力的測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。


德國EPK涂層測(cè)厚儀S5

的詳細(xì)介紹

德國EPK涂層測(cè)厚儀S5

MikroTest系列涂層測(cè)厚儀

一、 MikroTest涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品名錄

麥考特測(cè)厚儀根據(jù)量程大小可分為G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20以及筆式測(cè)厚儀等各種不同規(guī)格的測(cè)厚儀,zui小的測(cè)量范圍是0-100微米,zui大的是7.5-20毫米;又根據(jù)表現(xiàn)形式分為圓盤指針式的和數(shù)字顯示的(如新型的G7,F(xiàn)7等);還根據(jù)外觀的不同分為香蕉形的(俗稱)和筆式測(cè)厚儀,特別要注意的是,EPK還有二種特殊規(guī)格的麥考特測(cè)厚儀:即測(cè)量銅鋁塑料基底上鍍鎳的Ni50,Ni100和測(cè)量鐵基底上鍍鎳的NiFe50。

二、 MikroTest涂層測(cè)厚儀測(cè)量原理及應(yīng)用

所有MikroTest涂層測(cè)厚儀都是依據(jù)磁吸力的測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。測(cè)量磁鋼與磁性基體間的磁吸力與盤狀彈簧的彈力平衡,盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度有直接關(guān)系。

MikroTest涂層測(cè)厚儀中G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20型主要用于測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性涂鍍層;Ni50和Ni100主要用于測(cè)量銅鋁塑料基底上鍍鎳;NiFe50主要用于測(cè)量鋼鐵基體上的鍍鎳層。

三、 MikroTest涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

型 號(hào)

測(cè)量范圍

讀 值 精 度 ±

zui小測(cè)量區(qū)直徑mm

基體zui小厚度mm

適 用 場(chǎng)合

Mikrotest 6 G

0-100um

1um或5%讀值

20mm

0.5

鋼、鐵基體上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層等

Mikrotest 6 F

0-1000um

3um或5%讀值

30mm

0.5

Mikrotest 6 S3

0.2-3mm

5%讀值

30mm

1.0

Mikrotest 6 S5

0.5-5mm

5%讀值

50mm

1.0

Mikrotest 6 S10

2.5-10mm

5%讀值

50mm

2.0

Mikrotest 6 S20

7.5-20mm

5%讀值

100mm

7.0

Mikrotest 6 Ni50

0-50um

1um或5%讀值

15mm

 

非鐵基體上鍍鎳層

Mikrotest 6 Ni100

0-100um

1um或5%讀值

15mm

 

Mikrotest NiFe50

0-50um

2um或8%讀值

20mm

0.5

鋼鐵基體上電鍍鎳

Mikrotest 7 G

0-300um

2um或3%讀值

20mm

0.5

鋼、鐵基體上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層等

Mikrotest 7 F

0-1500um

5um或3%讀值

30mm

0.5

Mikrotest 7 S5

0.5-5mm

4%讀值

50mm

1.0

Mikrotest 7 S15

3.0-15mm

4%讀值

100mm

7.0

注:表中鋼鐵基體均指未硬化鋼鐵(C15到C45)

四、MikroTest涂層測(cè)厚儀使用過程中注意事項(xiàng)

  • 推動(dòng)指輪時(shí),不要觸動(dòng)按鈕;

  • 盡量保證測(cè)量點(diǎn)與兩支撐點(diǎn)在同一平面上;

  • 在粗糙表面測(cè)量時(shí),讀數(shù)將偏大。要多次測(cè)量求取平均值;

  • 測(cè)量柱體或圓形邊緣時(shí),一定要利用儀器測(cè)嘴的V型口;

  • 測(cè)量含碳量高或經(jīng)過熱處理后的硬質(zhì)鋼上涂層時(shí),測(cè)值會(huì)偏大;

  • 基體厚度小于臨界厚度時(shí),測(cè)值會(huì)偏大;

  • 在凸凹測(cè)量會(huì)對(duì)測(cè)值有影響,在凸面時(shí)測(cè)值偏大、凹面時(shí)測(cè)值偏小;

五、 MikroTest涂層測(cè)厚儀的維護(hù)與保養(yǎng)

  • 保證測(cè)厚儀遠(yuǎn)離*磁鐵或電磁鐵,遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng);

  • 切勿猛烈碰撞

  • 測(cè)厚儀使用完后指輪一定要反時(shí)針旋轉(zhuǎn)到二分之一刻度以上的位置再放置在存放點(diǎn);

六、 MikroTest涂層測(cè)厚儀的維修

  • 針對(duì)轉(zhuǎn)盤停不?。嚎烧{(diào)整卡位銷;

  • 針對(duì)轉(zhuǎn)盤推不動(dòng):檢查驅(qū)動(dòng)發(fā)條、齒輪組;

  • 針對(duì)測(cè)值不準(zhǔn):要用工具調(diào)整彈簧;

  • 齒輪組卡位:清洗齒輪組;

七、 MikroTest涂層測(cè)厚儀的符合標(biāo)準(zhǔn)

  1. DIN 50981,50982;

  2. ASTM B499,E367,D1186,B530,G12;

  3. BS5411;

  4. DIN EN ISO 2178,2361




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